Page 82 - bilgem-teknoloji-dergisi-14

ÖZEL MÜHENDİSLİK VEYA GÜVENİLİRLİK MÜHENDİSLİĞİ

Aysun ŞİRİN - Uzman Araştırmacı, İlknur BAYLAKOĞLU - Kıdeml Başuzman Araştırmacı / BİLGEM İLTAREN

Gel şm ş Elektron k C hazların Güven l rl ğ ç n

TASARIMDA ARIZA

YAKLAŞIMININ

TEMELLERİ

Savunma sanay alanında gel şt r len maktadır. Sonuç olarak, savunma sanay projeler nde yen
projeler n, lk alım mal yetler n n yanında, teknoloj ve tasarımlar, ürünler n stenen güven l rl k he-
görevler n zamanında eks ks z yer ne defler n uygun mal yetl ve zamanında karşılamasını sağ-
get reb lmeler , ömür devr boyunca lamak ç n uyarlanmış yaklaşımları gerekt rmekted r. Arıza
destekleneb l r ve kullanılab l r olmaları anal z ve beraber nde yapılan HTEA çalışması c hazların
gereks n mler n n karşılanmasını sağlamak, güven l rl ğ n sağlamak ç n yararlanılan en temel yakla-
bu sayede yüksek güven l rl ğe sah p şımların arasında yer almaktadır.
s stemler üretmek adına Hata Türü Etk ler
Anal z (HTEA) çalışmasının yapılmasına Elektron k C hazlarda Arıza Anal z Yaklaşımı
ht yaç duyulmaktadır.
Teknoloj n n lerlemes le b rl kte tasarlanan s stemler g t-
t kçe daha karmaşık yapılara ve farklı teknoloj lere sah p
Güven l rl k, b r ürünün kend s nden beklenen tüm fonk- olmaya başlamıştır. S l syum karbür (S C) ve galyum n trür
s yonları bel rl süre ve ortam koşullarında herhang b r (GaN) g b yen nes l gen ş bant aralıklı (WBG) malzeme-
arıza yapmadan yer ne get reb lme olasılığı olarak ta- ler n kullanımı, F nFET yapıları, karmaşık çok çek rdekl
nımlanır. Güven l rl k, tasarımın doğasında göz önünde m mar ler g b teknoloj ler güven l rl kle lg l çalışmalara
bulundurulan b r faktör olmasına rağmen lk kez 1957 yı- duyulan ht yacı arttırmaktadır.
lında AGREE (Adv sory Group on Rel ab l ty of Electron c
Equ pment) tarafından yayınlanan b r raporla, tasarımdan Elektron k teknoloj s b leşenlerde küçülme konsept yle
ayrılıp Güven l rl k Mühend sl ğ D s pl n olarak tanıtılmış- hızla lerlerken bu gel şmelere yen arıza türler eşl k et -
tır. Güven l rl k, II. Dünya Savaşı sonrasında hızla gel şen mekted r. Bu nedenle sorunların en erken safhada öngö-
s lah teknoloj s n n ortaya çıkardığı b r konudur. II. Dünya rülerek çözümü ve tüm sürec opt m ze etmek ç n detaylı
Savaşında anahtar rol oynayan vakum tüpler n n sık arı- arıza anal zler zorunlu hale gelm şt r.
zalanmasını m n muma nd rmek ç n hata türler n n kök S stemler n artan karmaşıklığıyla beraber, güven l rl k
sebepler araştırılarak düzelt c önlemler alınması, güven - elde ed lmes öneml b r tasarım parametres hal ne gel-
l rl k d s pl n n ortaya çıkmasına ves le olmuştur. 1950’ler- mekted r. Yüksek güven l rl ğe sah p elektron k s stemler
den t baren s v l uçak ve elektron k sanay dallarında da üretmek ç n yapılan arıza anal z , b r b leşen n düşük per -
konunun önem kazanmaya başladığı görülmüştür. formansının veya fonks yonunu yer ne get rememes n n
Özell kle savunma sanay alanında gel şt r len projelerde nedenler n bel rlemek amacıyla b leşen ver ler n n veya
ürünün maruz kaldığı zorlu çevre koşullarına karşın ömür b leşen n kend s n n ncelenmes sürec d r. Arıza anal -
devr boyunca destekleneb l r ve kullanılab l r olmaları z nde arızaya yol açan b r nc l nedenler bel rlenerek ge-
g b sterler güven l rl k konusunu lk sıraya taşımaktadır. lecektek arıza oluşumlarını önlemen n veya azaltmanın
Yüksek güven l rl ğe sah p ürün ve s stemler üretmek ç n yollarını gel şt r l r. Arızalara karşı dayanıklı ve stenen gü-
proje gel şt rme fazında güven l rl k tahm n , parça stres ven l rl ğe sah p b r s steme ulaşmak ç n tasarım, üret m
azaltma, dame ed leb l rl k anal zler , Hata Türler Etk ler ve bakım prosedürler değ şt r leb l r. Elektron k ürünlerde
Anal z (HTEA) g b çalışmalar Entegre Loj st k Destek ve arıza nedenler genel olarak balık kılçığı d agramında gös-
Özel Mühend sl k kapsamındak standartlara göre yapıl- ter len örnek nedenlerden kaynaklanır.

80