Page 73 - bilgem-teknoloji-dergisi-11
P. 73

Bilgi Güvenliğieknolojileri
 Y ar ı  İlet k en T









 Adımlayıcıların  aydınlatma  sistemleri,  istenilme-  tadır. Uzun süre ve yüksek sıcaklıkta yapılan ısıt-
 yen  dalga  boylarını  filtrelemeli  ve  istenilen  dalga   ma, fotorezistin çözünmesini yavaşlatmakta veya
 boyunda ışığa geçirgen olmalıdır. Yine bunun dı-  durdurmaktadır  [4].  PEB’  in  etkinliği  fotorezistin
 şında  ışıklandırma  dozunu  kontrol  edebilmeli  ve   içerdiği ışığa duyarlı olan bileşenin,  foto-asitin di-
 homojen bir ışık sağlamalıdır. Maskenin ışıklandır-  füzyon sabitlerine, moleküllerinin büyüklüğüne ve
 ması büyük bir alanda homojen olmalıdır. Aydın-  ilk ısıtma işlemi sonrasında kalan çözücünün mik-
 latma sistemlerindeki homojenlik, bir dizi merceğin   tarına  bağlıdır.  PEB  sıcaklığı  fotorezistin  içerdiği
 kullanılmasıyla artırılabilmektedir [2,3].  reçinenin camsı geçiş sıcaklığına bağlıdır ve camsı
 geçiş sıcaklığının, PEB sıcaklığının üzerinde olması
 Optik litografi, şekillendirme için belirli bir dalga bo-  önerilmektedir [2,6].
 yundaki ışık kaynağını kullanırken daha yeni tekno-
 lojilerde iyon demeti, elektron demeti gibi kaynaklar   Yarı  iletken  üretiminde,  genel  olarak  fotorezist
 kullanılmaktadır. Ayrıca yeni teknolojiler ile maskesiz   uzaklaştırılması  için  bazik  çözeltiler  kullanılmak-  Blokzincir Araştırma Ağı (BAĞ):
 şekillendirme yapmak da mümkündür [4,5].  tadır.  En  yaygın  olarak  kullanılan  kimyasal  ise
 içerisinde herhangi bir metalik iyon bulundurma-
 Işıklanma  sonrası  ısıtma  işlemi  (PEB)  yapılarak   yan tetrametil amonyum hidroksit (TMAH) çözel-
 fotorezist  moleküllerinin  ısıl  olarak  hareketiyle   tisidir.  Sodyum  ve  potasyum  hidroksit  çözeltileri   TÜBİTAK BİLGEM ve Üniversitelerimizin
 ışıklanmış  ve  ışıklanmamış  moleküllerin  tekrar   kapı  oksidinin  (gate  oxide)  bütünlüğünü  azalttığı
 düzenlenmesi  sağlanmaktadır.  Bu  sayede  duran   için tercih edilmemektedir. Fotorezist uzaklaştırma   işbirliği ile kurulmuş bir araştırma platformudur.
 dalga etkileri engellenmekte, fotorezist yan duvarı   işlemi; pul yatay konumdayken üzerine tamamen
 düzgünleşmekte ve çözünme daha düzenli olmak-  kaplayacak çözelti akıtılarak ve bir süre bekletile-
 rek  yapılmaktadır.  Fotorezistin  uzaklaşması  için
 yeterli süre kadar bekletildikten sonra pul de-iyo-
 nize su ile temizlenir ve kurutulur [2,3].

 İyon ekme ve aşındırma öncesi fotorezist yüksek       Amacı;
 sıcaklıkta  ısıtma  işlemi  ile  sertleştirilerek  kararlı
 bir yapıya dönüştürülmektedir. Bu işlem sırasında
 fotorezist  içinde  çapraz  bağlar  oluşmakta,  kalan
 nem  ve  gazlar  giderilmektedir.  Fotorezistin  son
 ısıtma sıcaklığı camsı geçiş sıcaklığı ile sınırlı kal-   Ülkemizin,
 maktadır. Camsı geçiş sıcaklığının üzerinde amorf
 yapıdaki  polimer  zincirlerinin  moleküler  hareketi   hayatımızın
 gerçekleşmektedir. Bu hareket camsı geçiş sıcak-  her noktasında   Ülkemizde           Eş güdüm
 lığı altında durmaktadır. Camsı geçiş sıcaklığı üze-  köklü değişiklikler   konu
 rinde,  fotorezist  akmakta  ve  şekillendirme  profili   yapmaya aday   ile ilgilenen    içinde              www.bag.org.tr
 bozulmaktadır [2,3].                                                                   çalışmalarına
                 blokzincir teknolojileri             araştırmacıları                     yardımcı
                  konusundaki rekabet                    bir araya                         olmak
 Kaynakça               gücünü                           getirmek
 [1] Karis, A., “PR Thickness Examination Photolithography  yükseltmek
  in the Manufacturing of Transparent Displays”,Thesis,
 Metropolia University, 2019
 [2] Levinson, H.J. (2010). Principles of Lithography
 (Third Edition). Washington USA: SPIE Press.
 [3] Mack, C., “Fundamental Principles of Optical Lithography_
 The Science of Microfabrication”Wiley-Interscience, 2008.
 [4] Menon, R., Patel, A., Gil, D., Smith, H.I. (2005). Maskless
 lithography. Materials Today, 8, 26-33.
 [5] Tseng, A.A. (2003). Electron beam lithography in nanoscale   BAĞ Koordinatörü TÜBİTAK BİLGEM
 fabrication: recent development. IEEE Transactions on
 Electronics Packaging Manufacturing, 26, 141-149.
 [6] Raptis I., Constantions C., Diakoumakos D., “Non
 Destructive Method for Glass Transition in thin
 Photoresist Films” 61-62, Microelectronic Engineering, 2002.
                                                      Üye Kurumlar








 70
   68   69   70   71   72   73   74   75   76   77   78