Page 72 - bilgem-teknoloji-dergisi-11
P. 72

Bilgi Güvenliğieknolojileri
        Y ar ı  İlet k en T









               Adımlayıcıların  aydınlatma  sistemleri,  istenilme-  tadır. Uzun süre ve yüksek sıcaklıkta yapılan ısıt-
               yen  dalga  boylarını  filtrelemeli  ve  istenilen  dalga   ma, fotorezistin çözünmesini yavaşlatmakta veya
               boyunda ışığa geçirgen olmalıdır. Yine bunun dı-  durdurmaktadır  [4].  PEB’  in  etkinliği  fotorezistin
               şında  ışıklandırma  dozunu  kontrol  edebilmeli  ve   içerdiği ışığa duyarlı olan bileşenin,  foto-asitin di-
               homojen bir ışık sağlamalıdır. Maskenin ışıklandır-  füzyon sabitlerine, moleküllerinin büyüklüğüne ve
               ması büyük bir alanda homojen olmalıdır. Aydın-  ilk ısıtma işlemi sonrasında kalan çözücünün mik-
               latma sistemlerindeki homojenlik, bir dizi merceğin   tarına  bağlıdır.  PEB  sıcaklığı  fotorezistin  içerdiği
               kullanılmasıyla artırılabilmektedir [2,3].       reçinenin camsı geçiş sıcaklığına bağlıdır ve camsı
                                                                geçiş sıcaklığının, PEB sıcaklığının üzerinde olması
               Optik litografi, şekillendirme için belirli bir dalga bo-  önerilmektedir [2,6].
               yundaki ışık kaynağını kullanırken daha yeni tekno-
               lojilerde iyon demeti, elektron demeti gibi kaynaklar   Yarı  iletken  üretiminde,  genel  olarak  fotorezist
               kullanılmaktadır. Ayrıca yeni teknolojiler ile maskesiz   uzaklaştırılması  için  bazik  çözeltiler  kullanılmak-                        Blokzincir Araştırma Ağı (BAĞ):
               şekillendirme yapmak da mümkündür [4,5].         tadır.  En  yaygın  olarak  kullanılan  kimyasal  ise
                                                                içerisinde herhangi bir metalik iyon bulundurma-
               Işıklanma  sonrası  ısıtma  işlemi  (PEB)  yapılarak   yan tetrametil amonyum hidroksit (TMAH) çözel-
               fotorezist  moleküllerinin  ısıl  olarak  hareketiyle   tisidir.  Sodyum  ve  potasyum  hidroksit  çözeltileri                      TÜBİTAK BİLGEM ve Üniversitelerimizin
               ışıklanmış  ve  ışıklanmamış  moleküllerin  tekrar   kapı  oksidinin  (gate  oxide)  bütünlüğünü  azalttığı
               düzenlenmesi  sağlanmaktadır.  Bu  sayede  duran   için tercih edilmemektedir. Fotorezist uzaklaştırma                      işbirliği ile kurulmuş bir araştırma platformudur.
               dalga etkileri engellenmekte, fotorezist yan duvarı   işlemi; pul yatay konumdayken üzerine tamamen
               düzgünleşmekte ve çözünme daha düzenli olmak-    kaplayacak çözelti akıtılarak ve bir süre bekletile-
                                                                rek  yapılmaktadır.  Fotorezistin  uzaklaşması  için
                                                                yeterli süre kadar bekletildikten sonra pul de-iyo-
                                                                nize su ile temizlenir ve kurutulur [2,3].

                                                                İyon ekme ve aşındırma öncesi fotorezist yüksek                                                               Amacı;
                                                                sıcaklıkta  ısıtma  işlemi  ile  sertleştirilerek  kararlı
                                                                bir yapıya dönüştürülmektedir. Bu işlem sırasında
                                                                fotorezist  içinde  çapraz  bağlar  oluşmakta,  kalan
                                                                nem  ve  gazlar  giderilmektedir.  Fotorezistin  son
                                                                ısıtma sıcaklığı camsı geçiş sıcaklığı ile sınırlı kal-                      Ülkemizin,
                                                                maktadır. Camsı geçiş sıcaklığının üzerinde amorf
                                                                yapıdaki  polimer  zincirlerinin  moleküler  hareketi                        hayatımızın
                                                                gerçekleşmektedir. Bu hareket camsı geçiş sıcak-                           her noktasında                     Ülkemizde                        Eş güdüm
                                                                lığı altında durmaktadır. Camsı geçiş sıcaklığı üze-                      köklü değişiklikler                     konu
                                                                rinde,  fotorezist  akmakta  ve  şekillendirme  profili                     yapmaya aday                       ile ilgilenen                      içinde              www.bag.org.tr
                                                                bozulmaktadır [2,3].                                                                                                                           çalışmalarına
                                                                                                                                        blokzincir teknolojileri             araştırmacıları                     yardımcı
                                                                                                                                         konusundaki rekabet                    bir araya                         olmak
                                                                Kaynakça                                                                       gücünü                           getirmek
                                                                [1] Karis, A., “PR Thickness Examination Photolithography                    yükseltmek
                                                                 in the Manufacturing of Transparent Displays”,Thesis,
                                                                Metropolia University, 2019
                                                                [2] Levinson, H.J. (2010). Principles of Lithography
                                                                (Third Edition). Washington USA: SPIE Press.
                                                                [3] Mack, C., “Fundamental Principles of Optical Lithography_
                                                                The Science of Microfabrication”Wiley-Interscience, 2008.
                                                                [4] Menon, R., Patel, A., Gil, D., Smith, H.I. (2005). Maskless
                                                                lithography. Materials Today, 8, 26-33.
                                                                [5] Tseng, A.A. (2003). Electron beam lithography in nanoscale                    BAĞ Koordinatörü TÜBİTAK BİLGEM
                                                                fabrication: recent development. IEEE Transactions on
                                                                Electronics Packaging Manufacturing, 26, 141-149.
                                                                [6] Raptis I., Constantions C., Diakoumakos D., “Non
                                                                Destructive Method for Glass Transition in thin
                                                                Photoresist Films” 61-62, Microelectronic Engineering, 2002.
                                                                                                                                                                             Üye Kurumlar








                                                          70
   67   68   69   70   71   72   73   74   75   76   77