Page 57 - bilgem-teknoloji-dergisi-11
P. 57

Yarı İletken Teknolojileri                                                                       BILGEM
                                                                                                  TEKNOLOJI








































              RIE (Reactive Ion Etch, Reaktif İyon
 SiO ’yi  aşındırmıştır  (seçicilik).  Görüntü  incelen-  iyonlaşmakta ve taban yüzeyine ivmeyle çarparak   Aşındırma) Reaktörü
 2
 diğinde  HF  çözeltisinin  Si N   altında  kalan  SiO    tamamen  fiziksel  bir  aşındırmaya  sebep  olmak-  RIE  reaktörü,  CCP  (Capacitively  Coupled  Plasma)
 3
 2
 4
 katmanını  da  aşındırdığı  görülmektedir  (izotropik   tadır. Kimyasal aşındırma, izotropik bir aşındırma   türü  bir  reaktördür.  Yani  reaktöre  beslenen  gazlar,
 aşındırma).  sağlamaktadır.  Fiziksel  aşındırma  ise  anizotorpik   bir RF enerji kaynağı yardımıyla iyonize olmakta ve
 aşındırma sağlasa da aşındırma çok yavaş gerçek-  kapasitif  olarak  aktive  olan  elektronlar  ile  plazma
 Diğer bir aşındırma yöntemi olan kuru aşındırma,   leşmekte ve aşınan yüzey çok fazla pürüzlenmek-  oluşturulmaktadır. Plazmada bulunan (+) yüklü iyon-
 plazma  haline  getirilen  gazlar  ile  gerçekleştiril-  tedir. Kuru aşındırmanın en önemli avantajlarından   lar ve radikaller, silisyum pulun yerleştirildiği anoda
 mektedir.  Kullanılan  gazlar  ya  plazma  oluşumu   biri, fiziksel ve kimyasal işlemleri aynı anda gerçek-  doğru hareket etmektedir. İyonlar fiziksel etki ile (pul
 sırasında  çarpan  elektronların  etkisi  ile  radikal   leştirerek  hızlı,  düzgün  yüzeyli,  anizotropik  profil   yüzeyine  çarparak  parça  koparmaktadır),  radikaller
 haline gelmekte ve taban yüzeyindeki malzemeler   oluşturan bir aşındırma sağlamasıdır. Ayrıca kuru   ise  kimyasal  reaksiyona  girerek  pul  yüzeyini  aşın-
 ile kimyasal reaksiyona girerek aşındırma gerçek-  aşındırma ile aşındırıcı gazların miktar ve oranlarını   dırmaktadır  (Şekil  3).  RIE  reaktöründe  yalıtım  mal-
 leşmekte ya da yine çarpan elektronların etkisi ile   değiştirerek istenilen açıda yan duvar profili oluş-  zemeleri  olan  SiO ,  Si N   filmleri  aşındırılmaktadır.
                                    4
                                  3
                              2
 turulabilmektedir.  Aşındırıcı gaz olarak CHF  (triflorometan), CF (kar-
                                     3
                                                       4
              bon  tetraflorür),  He  (helyum)  ve  O   (oksijen)  kulla-
                                             2
 YİTAL’de 3 farklı çalışma prensibi olan 9 adet re-  nılmaktadır. CHF  ve CF  içeriğindeki F (flor), SiO ile
                             3
                                                         2
                                   4
 aktör ile kuru aşındırma yapılmaktadır. Tipik olarak   reaksiyon  vererek  asıl  kimyasal  aşındırma  işlemini
 reaktörler alüminyum, cam veya kuvarsdan yapıl-  üstlenmektedir.  Silisyum  tabana  seçiciliğin  önemli
 mış, düşük vakuma inebilen cihazlardır. Bu cihazlar   olduğu durumlarda Si ile daha az reaktif olduğu için
 temel olarak reaktör haznesi, turbo pompa ve kuru   CHF tercih  edilmektedir.  O ,  besleme  oranına  göre
                  3
                                      2
 pompadan  oluşan  vakum  sistemi,  radyofrekans   bazı şartlarda reaksiyonu hızlandırmakta bazı şart-
 (RF) güç kaynakları, su veya gaz soğutma-ısıtma   larda da yan duvarlarda birikecek reaksiyon ürünleri
 sistemleri  ve  gaz  dağıtım  sistemlerini  içermekte-  oluşturmaktadır  (böylece  yan  duvarların  aşınması
 dir. Aşındırılacak pullar reaktöre yüklenmekte, kuru   engellenerek anizotropik bir profil sağlanmaktadır).
 pompa ve turbo pompa reaktörü vakumlamakta ve   He ise gaz karışımlarını seyrelterek aşındırma hızını
 reaktif  gazlar  reaktöre  beslenmektedir.  Radyofre-  ve seçiciliği kontrol amaçlı kullanılmaktadır.
 kans (RF) enerjisiyle gazlar iyonize edilerek aşın-
 dırma için gerekli olan koşullar oluşturulmaktadır.   RIE reaktörlerinde 1 adet RF güç kaynağı bulunmak-
 Kuru  aşındırma  proseslerinin  temel  parametreleri   tadır. Plazmadaki iyon-radikal sayısı ile aşındırılacak
 sıcaklık, basınç, güç, gaz akış oranları ve süredir.  pulun yüzeyine çarpacak iyon-radikal sayısı ve hızı,







 54                                                       55
   52   53   54   55   56   57   58   59   60   61   62