Page 39 - bilgem-teknoloji-dergisi-11
P. 39

Yarı İletken Teknolojileri                                                          Bu bir proje
                                                                                     tanıtımıdır.









 Pul içi SiGEC:B kalınlık dağılımı
 √ 30×30µm alandan
 Film üzerine
 SiGeC:B ve poli-Si
 gönderilen ışığın
 √ SiGeC:B filmi
 değişimi ölçerek
 içerisindeki % Ge
 filmin op#k
 SE  Spektroskopik Elipsometri  polarizasyonundaki   film kalınlık ölçümü  Çok  Boyutlu  Telsiz  Haberleşme
 özellikleri, fiziksel
 tayini
 boyutu ve bileşimi
 √ SiGeC:B filmi
                                  İşaret Analiz Platformu (KAŞİF)
 hakkında bilgi veren
 içerisindeki Ge
 ölçüm tekniğidir.
 UYGULAMALARI  TEM Geçirimli Elektron Mikroskobu  Film yüzeyine   √ Mimarinin boyut   Ülkemizin  bulunduğu  coğrafi  konum  itibariyle,   konusu  radyo  frekans  spektrum  hiper-uzayının
 profili tayini
             askeri telsiz haberleşme işaretlerinin yakalanarak
                                                               boyutunun  işgal  edilip  edilmediğini  değil,  aynı
             bunlardan  birtakım  bilgilerin  elde  edilmesi
 gönderilen yüksek
                                                               zamanda istihdam edilen kanal erişim yöntemleri,
 enerjili elektronların
             muharebe açısından büyük öneme sahiptir.
                                                               hava  arabirimleri,  erişim  teknikleri  ve  diğer
 kontrolü
 malzemeden
                                                               parametrelerle ilgili bilgileri ortaya koyabilme yeti-
 geçmesi ve
 √ Film içerisindeki
 yansıması ile oluşan
             Bunun  yanında  kamu  güvenliği  kurum  ve
 kusurların
                                                               sine sahip bir platform olacaktır.
 görüntünün işlendiği
 (dislokasyon) tespiN
             kuruluşlarının  yangın,  cankurtaran  ve  kamu
 yüksek çözünürlüklü
             emniyeti  hizmetleri  için  kullandıkları  elek-
 sistemdir.
                                                               Bu kapsamda geleneksel sinyal işleme algoritmaları
 TEKNİKLERİ & YİTAL  HRXRD  Yüksek Çözünürlüklü X-ışınları   Kırınımı  Malzemenin atomik   √ Kristal kalite oranı  1000000 1  65  Const. %24,556  67  68  69  70  tromanyetik  spektrumun  sürekli  olarak  kul-  ile günümüzde kullanım alanı giderek yaygınlaşan
             lanılabilir olması ve yalnızca burada yayın yapma
                                                               yapay  zeka  teknikleri  de  kullanılarak  10Mhz  ile
             yetkisine  sahip  kişi  ve  kurumlarca  kullanılması
 1E7
                                                               6Ghz  arasında  haberleşme  spektrumunu  işgal
   SiGeC_tavlanmis
             zorunludur. Spektrum izleme, burada sözü edilen
   SiGeC
                                                               eden  sinyaller  için  işaret  tanıma,  yön  ve  konum
             görevlerin yerine getirilebilmesi için tek çözümdür.
 XRD intensity ( a.u.)
 100000
 dizilimine bağlı
                                                               bulma  ile  spektrum  modelleme  ve  kestirimi  ana
 √ % Ge miktarı
 10000
 olarak gönderilen X
                                                               başlıkları bulunan Türkiye’nin ilk yapay zeka des-
 √ % C miktarı
 ışınlarını farklı
             Bu  nedenle,  TÜBİTAK  BİLGEM  çatısı  altında
 1000
 kırması prensibine
 √ SiGeC:B film
                                                               tekli  sinyal  istihbarat  platformu,  KAŞİF,  2021
             geliştirilmekte olan çok boyutlu telsiz haberleşme
 100
 dayanır
 kalınlığı
                                                               yılının ilk çeyreğinde ortaya çıkacaktır.
             işaret  analiz  platformu  (KAŞİF),  yalnızca  ilgi
 10
 66
 2-theta (deg)
 KARAKTERİZASYON  FIB & SEM  Odaklanmış İyon Deme: &  Taramalı Elektron Mikroskobu  Odaklanmış bir   √ Mimarinin boyut   10 22  P COR-S IMS  SM  25  Yapay-Zeka Tabanlı İşaret Tanıma ve Sınıflandırma  Yüksek
                        Çok Boyutlu Telsiz Haberleşme İşaret Analiz Platformu (KAŞİF)
 elektron demeN ile
 kontrolü
 numune yüzeyini
 √ Aşındırma ve
 tarayarak görüntü
 depolama
 elde eden elektron
 süreçlerinin
 mikroskobu
 incelenmesi
 türüdür.
                                                                                                  Çözünürlüklü
                                                                                                  Yön ve Konum
                                                                                                  Tespiti
 İkincil İyon Kütle Spektroskopisi  Gönderilen elektron   √ EBK katkı profili (B,   O,C,P,B CONCENTRATION (atoms/cc)  10 21  P  Ge® ®  Ge CONCENTRATION (atom%)  20 15  Spektrum Kestirimi ve Modelleme
 demeNnin yüzeyde,
 oluşturduğu ikincil
 10 20
 iyonlar ile  derinliğe
 B
 bağlı elementel
 P, As, C) kontrolü
 10 19
 SIMS  yandan yüzey   √ EBK jonksiyon  10 18  C  10 5                                              GPU ve FPGA
 analizi yapılır. Bir
 genişlikleri kontrolü
 aşındırılırken diğer
 10 17
 yandan ortaya çıkan
                                                                                                   Tabanlı
 10 16
 yüzeyden elementel
                                                                                                   İşleme
 analiz yapılır.
 10 15
 150
 200
 250
 50
 100
 0
 Y0HWZ757 Sample 7_overlay1.svw
 10/5/2017 0     Özgün Yapıda ve Yüksek Kazançlı Anten Tasarımı                                    Paralel İşaret
 DEPTH (nm)
 Şekil 3 - Epitaksiyel filmlerin karakterizasyon teknikleri, kullanım amaçları ve çıktıları
                                                                                        www.bilgem.tubitak.gov.tr
 36
   34   35   36   37   38   39   40   41   42   43   44